ナノ3D光干渉計測システム CSI

機種    :Hitachi VS1800

設置場所  :分析計測センター201室
担当教員  :
担当技術職員:◯小杉 健一朗、上野 悠一、高橋 美幸

 

 

CSI測定用の試料について

測定可能な試料
 
試料形状
 
試料サイズ
 
試料に関する注意
 
試料の調整方法
 

Hitachi VS1800の利用について

利用方法
現地利用 
半遠隔利用 web会議システムによる現地スタッフとの協働的な利用
利用補足
機器を直接操作(現地利用)するにはスタッフから講習を受けて操作方法を習得後、スタッフが行う技能認定試験に合格する必要があります。