e-mail: aic[at]analysis.nagaokaut★.ac.jp
[at]を@に変え,★を削除してください.
センター長と常駐スタッフ全員にメールが転送されます。お問い合わせは上記にお願いします。
tel: 0258-47-9833
平日9〜16時は電話対応が可能です.センター事務室に繋がります.
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太字はメイン担当
田中 諭 TANAKA Satoshi(技術科学イノベーション系 教授 分析計測センター長)
西川 雅美 NISHIKAWA Masami(物質生物系 准教授 副センター長)
高橋 美幸 TAKAHASHI Miyuki(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XRF、cold FE-SEM、schottky FE-SEM、Flex SEM、cryo SEM、卓上SEM、ICP、AAS、FE-EPMA、FIB-SEM、FIB/FE-SEM(JEOL)、UV-Vis/NIR、CSI
小杉 健一朗 KOSUGI Ken-ichiro(技術支援センター 技術専門職員)
担当:GD-OES、TEM、FE-TEM、FIB/FE-SEM(JEOL)、FIB、イオンミリング、ミクロトーム、CSI、SPM、FE-EPMA、LRS、cold FE-SEM、schottky FE-SEM、Flex SEM、GC-TOF/MS、FL、3D-LRS、クリーンルーム
上野 悠一 UENO Yu-ichi(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XPS/UPS、FT/IR、LRS、イオン化エネルギー、GC-TOF/MS 、3D-LRS、GD-OES、XPS、AES、XRF、UV-Vis/NIR、FL、CSI、SPM、クリーンルーム
江村 望 EMURA Nozomi(技術支援センター 技術職員)
担当:DLS、LD、オスミウムコーター、親水化処理装置、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、TEM、Flex SEM、卓上SEM(日立)、FIB/FE-SEM、イオンミリング、ミクロトーム
吉田 拓也 YOSHIDA Takuya(技術支援センター 技術職員)
担当:UV-Vis/NIR、FL、ESR、TG-DTA、DSC、比表面積/細孔分布測定装置、FT/IR、LRS、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、XRF、ICP、AAS、DLS
後藤 尚哉 GOTO Naoya (技術支援センター 技術職員)
担当:ICP、TG-DTA、DSC
古野 豪人 FURUNO Hideto(URA)
阿部 志保 ABE Shiho(事務補佐員)
米持 沙恵 YONEMOCHI Sae(技術補佐員)
解良 千秋 KERA Chiaki (技術補佐員)
近藤 みずき KONDO Mizuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:AES、XPS/UPS、cryo-SEM、卓上SEM(日立)
豊田 英之 TOYOTA Hideyuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:XPS、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、XPS/UPS
河原 夏江 KAWAHARA Natsue(技術支援センター 技術専門職員)
担当:FE-EPMA、X線CT、NMR、schottky FE-SEM、DSC
武田 百合子 TAKEDA Yuriko(技術支援センター 技術職員)
担当:卓上SEM(日立)、cryo SEM