分析計測センター お問合せ先

e-mail: aic[at]analysis.nagaokaut★.ac.jp
[at]を@に変え,★を削除してください.
センター長と常駐スタッフ全員にメールが転送されます。お問い合わせは上記にお願いします。

tel: 0258-47-9833
平日9〜16時は電話対応が可能です.センター事務室に繋がります.

スタッフ紹介と担当機器

太字はメイン担当

センター長

田中 諭 TANAKA Satoshi(技術科学イノベーション系 教授 分析計測センター長)

西川 雅美 NISHIKAWA Masami(物質生物系 准教授 副センター長)

常駐スタッフ

高橋 美幸 TAKAHASHI Miyuki(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XRFcold FE-SEMschottky FE-SEMFlex SEMcryo SEM卓上SEMICPAAS、FE-EPMA、FIB-SEM、FIB/FE-SEM(JEOL)、UV-Vis/NIR、CSI

小杉 健一朗 KOSUGI Ken-ichiro(技術支援センター 技術専門職員)
担当:GD-OESTEMFE-TEMFIB/FE-SEM(JEOL)FIBイオンミリングミクロトームCSISPM、FE-EPMA、LRS、cold FE-SEM、schottky FE-SEM、Flex SEM、GC-TOF/MS、FL、3D-LRS、クリーンルーム

上野 悠一 UENO Yu-ichi(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XPS/UPSFT/IRLRSイオン化エネルギーGC-TOF/MS3D-LRS、GD-OES、XPS、AES、XRF、UV-Vis/NIR、FL、CSI、SPM、クリーンルーム

江村 望 EMURA Nozomi(技術支援センター 技術職員)
担当:DLSLDオスミウムコーター親水化処理装置、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、TEM、Flex SEM、卓上SEM(日立)、FIB/FE-SEM、イオンミリング、ミクロトーム

吉田 拓也 YOSHIDA Takuya(技術支援センター 技術職員)
担当:UV-Vis/NIRFLESRTG-DTADSC比表面積/細孔分布測定装置、FT/IR、LRS、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、XRF、ICP、AAS、DLS

後藤 尚哉 GOTO Naoya (技術支援センター 技術職員)
担当:ICP、TG-DTA、DSC

古野 豪人 FURUNO Hideto(URA)

阿部 志保 ABE Shiho(事務補佐員)

解良 千秋 KERA Chiaki(技術補佐員)

非常駐スタッフ(技術支援センター)

近藤 みずき KONDO Mizuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:AES、XPS/UPS、cryo-SEM、卓上SEM(日立)

豊田 英之 TOYOTA Hideyuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:XPSPowder XRDIn-plane XRDLow temperature XRD、XPS/UPS

河原 夏江 KAWAHARA Natsue(技術支援センター 技術専門職員)
担当:FE-EPMAX線CTNMR、schottky FE-SEM、DSC

武田 百合子 TAKEDA Yuriko(技術支援センター 技術職員)
担当:卓上SEM(日立)、cryo SEM