分析計測センター お問合せ先

e-mail: aic[at]analysis.nagaokaut★.ac.jp
[at]を@に変え,★を削除してください.
センター長と常駐スタッフ全員にメールが転送されます。お問い合わせは上記にお願いします。

tel: 0258-47-9833
平日9〜16時は電話対応が可能です.センター事務室に繋がります.

スタッフ紹介と担当機器

太字はメイン担当

センター長

田中 諭 TANAKA Satoshi(技術科学イノベーション系 教授 分析計測センター長)

西川 雅美 NISHIKAWA Masami(物質生物系 准教授 副センター長)

常駐スタッフ

高橋 美幸 TAKAHASHI Miyuki(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XRF、cold FE-SEM、schottky FE-SEM、Flex SEM、cryo SEM、卓上SEM、ICP、AAS、卓上SEM(日立)、FE-EPMA、FIB-SEM、FIB/FE-SEM(JEOL)、UV-Vis/NIR、CSI、BET/BJH、イオンミリング

小杉 健一朗 KOSUGI Ken-ichiro(技術支援センター 技術専門職員)
担当:GD-OES、TEM、FE-TEM、FIB/FE-SEM(JEOL)、FIB、イオンミリング、ミクロトーム、CSI、SPM、FE-EPMA、LRS、cold FE-SEM、schottky FE-SEM、Flex SEM、FL、3D-LRS、DSC、TG-DTA、クリーンルーム

上野 悠一 UENO Yu-ichi(技術支援センター 技術専門職員)
担当:XPS/UPS、FT/IR、LRS、イオン化エネルギー、GC-TOF/MS 、3D-LRS、GD-OES、XPS、AES、XRF、UV-Vis/NIR、FL、CSI、SPM、クリーンルーム

江村 望 EMURA Nozomi(技術支援センター 技術専門職員)
担当:DLS、LD、卓上SEM(日立)、オスミウムコーター、親水化処理装置、ホモジナイザー、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、TEM、FE-TEM、Flex SEM、FIB/FE-SEM、X線CT、イオンミリング、ミクロトーム

吉田 拓也 YOSHIDA Takuya(技術支援センター 技術職員)
担当:UV-Vis/NIR、FL、ESR、TG-DTA、DSC、比表面積/細孔分布測定装置、FT/IR、LRS、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、XRF、ICP、AAS、GC-TOF/MS、DLS、LD、ホモジナイザー

後藤 尚哉 GOTO Naoya (技術支援センター 技術職員)
担当:ICP、TG-DTA、DSC、cryo SEM、Benchtop SEM、DLS、LD

古野 豪人 FURUNO Hideto(URA)

阿部 志保 ABE Shiho(事務補佐員)

毛利 敦雄 MOURI Atsuo(技術補佐員)

五十嵐 一弘IGARASHI Kazuhiro(技術補佐員)

 

非常駐スタッフ(技術支援センター)

近藤 みずき KONDO Mizuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:AES、XPS/UPS、cryo SEM、卓上SEM(日立)

豊田 英之 TOYOTA Hideyuki(技術支援センター 技術専門員)
担当:XPS、Powder XRD、In-plane XRD、Low temperature XRD、XPS/UPS、イオン化エネルギー

河原 夏江 KAWAHARA Natsue(技術支援センター 技術専門員)
担当:FE-EPMA、X線CT、NMR、schottky FE-SEM、DSC、TG-DTA

武田 百合子 TAKEDA Yuriko(技術支援センター 技術職員)
担当:卓上SEM(日立)、cryo SEM