〇センタースタッフによる講習ご希望の方は 機器利用お問合せからお願いいたします。
スタッフへの講習・分析依頼は原則、希望する日程の2週間前までにお願いいたします。
※緊急を要する場合は、指導教員の先生と共に個別にご相談ください。
〇研究室内の引継ぎの際、申請の必要はありません
※遠隔での講習が必要な場合にのみ、aic-staff[at]analysis.nagaokaut.ac.jp へご連絡ください（[at]を@に変えてください）
遠隔講習の流れ
分析計測センターへ連絡後、スタッフより許可が下りましたら機器予約の上お越しください
(1) サンプル導入および装置の立ち上げのみインストラクター（またはセンタースタッフ）と一緒に行う
(2) まずはインストラクターが機器の操作を行い、その様子を生徒側がセンター内の別室で視聴し、操作方法を学ぶ
→PCはセンターで用意する
(3) 生徒側が（可能となれば）操作を行い、インストラクターが別室でモニターしてアドバイスを行う
→必要に応じて(2)と(3)を繰り返し行う
(4) ペーパーテストがある機器についてはテストを受験、無い機器に関してはスタッフによる実技試験を受ける
→同日に受験できるとは限りません 詳しくはご相談ください
(5) インストラクター登録を行う
遠隔・半遠隔講習が可能な機器
装置詳細については機器一覧をご覧ください
EPMA ：電子線マイクロアナライザ
GD-OES ：グロー放電発光分析装置
XPS ：X線光電子分光装置
AES ：オージェ電子分光装置
LRS ：レーザーラマン分光装置
XRD ：X線回折装置
XRF 蛍光X線分析装置
FE-SEM ：電界放出形走査電子顕微鏡
FlexSEM ：走査電子顕微鏡
卓上SEM(日立・JEOL) ：卓上走査電子顕微鏡
cryo SEM ：クライオ走査電子顕微鏡
上記に無い機器についてはスタッフまでご相談ください
