共同利用機器および設備
学内外共同利用として設置された機器および設備
- 運営費用
- 利用者からの利用料金＋分析計測センター運用費（大学からの配分補助）
- 利用方法
- 自己測定（本学学生・教職員が直接操作して測定）または依頼分析（センターに測定を依頼）詳細は「 利用方法について 」をご覧ください。
- 利用料金
- 各機器および設備で設定された料金＋電気料金
詳細は「 利用料について」をご覧ください。 - お問合せ先
- 各問合せフォームからお願いします。
機器利用お問合せ（学内用）
講習や依頼分析を希望する方は希望する日時や試料について明記してください。学生は必ず指導教員の許可を得てください。
機器利用・総合受付WEB窓口（学外用）
画像をクリックで機器詳細が見られます（詳細ページ未作成機器はこのページに戻ります）
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電界放出形電子プローブマイクロアナライザ FE-EPMA
Field Emisson-Electron Probe Micro Analyzer
JXA-iHP200F
(JEOL)機器No.AICJU61コアファシリティ
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グロー放電発光分析装置 GD-OES
Glow Discharge Optical Emission Spectrometer
GD-Profiler2
(Horiba)機器No.AICJU2コアファシリティ
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全自動光電子分光装置 XPS/UPS
X-Ray Photoelectron Spectrometer
Nexsa
(Thermo Fisher Scientific)機器No.AICJU62コアファシリティ
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X線光電子分光装置 XPS
X-Ray Photoelectron Spectrometer
JPS-9010TR
(JEOL)機器No.AICJU3コアファシリティ
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オージェ電子分光装置 AES
Auger Electron Spectrometer
JAMP-9500F
(JEOL)機器No.AICJU4コアファシリティ
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フーリエ変換赤外分光装置FT/IR
Fourier Transform Infrared Spectrometer
IRTracer-100(SHIMADZU)機器No.AICJU83
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フーリエ変換赤外分光装置 FT/IR
Fourier Transform Infrared Spectrometer
FT/IR-4100
(JASCO)機器No.AICJU5
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レーザーラマン分光光度計 LRS
Laser Raman Spectrometer
NRS-7200
(JASCO)機器No.AICJU6コアファシリティ
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冷却加熱型レーザーラマン分光光度計
Nanofinder FLEX
(Tokyo Instruments)機器No.AICJU29
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紫外可視近赤外分光光度計 UV-Vis/NIR
UltraViolet-Visible / NearInfraRed Spectrometer
V-770
(JASCO)機器No.AICJU72コアファシリティ
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分光蛍光光度計 FL
Spectrofluorometer
FP-8550
(JASCO)機器No.AICJU73コアファシリティ
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電子スピン共鳴分光装置 ESR
Electron Spin Resonance Spectrometer
JES-RE2X
(JEOL)機器No.AICJU7コアファシリティ
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In-plane型X線回折装置 In-plane XRD
In-plane Type X-Ray Diffractometer
Smart Lab 9kW (Rigaku)機器No.AICJU9コアファシリティ
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低温X線回折装置 Low temperature XRD
X-Ray Diffractometer with cryostat
Smart Lab 9kW（Rigaku）機器No.AICJU68コアファシリティ
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粉末X線回折装置 PowderXRD
Powder X-Ray Diffractometer
Smart Lab 3kW
(Rigaku)機器No.AICJU8コアファシリティ
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蛍光X線分析装置 XRF
X-Ray Fluorescence Analyzer
ZSX Primus III+
(Rigaku)機器No.AICJU77コアファシリティ
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蛍光X線分析装置 XRF
X-Ray Fluorescence Analyzer
ZSX Primus II
(Rigaku)機器No.AICJU10コアファシリティ
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ICP発光分光分析装置 ICP-OES
ICP Optical Emission Spectrometer
ICPE-9820
(Shimadzu)機器No.AICJU57コアファシリティ
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原子吸光分光光度計 AAS
Atomic Absorption Spectrometer
AA-7000
(Shimadzu)機器No.AICJU58コアファシリティ
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熱分解ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 GC-TOF/MS
JMS-T200GC AccuTOFGCx-plus
(JEOL)機器No.AICJU64コアファシリティ
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電界放出形透過電子顕微鏡 FE-TEM
Field Emission Transmission Electron Microscope
JEM-2100F
(JEOL)機器No.AICJU40コアファシリティ
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透過電子顕微鏡 TEM
Transmission Electron Microscope
HT7700
(Hitachi)機器No.AICJU11コアファシリティ
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冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Field Emission Scanning Electron Microscope
SU8230
(Hitachi)機器No.AICJU12コアファシリティ
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冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Field Emission Scanning Electron Microscope
SU8000
(Hitachi)機器No.AICJU79コアファシリティ
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ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
Field Emission Scanning Electron Microscope
JSM-IT800(SHL)
（JEOL）機器No.AICJU66コアファシリティ
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走査電子顕微鏡 Flex SEM
Scanning Electron Microscope
FlexSEM 1000 II
(Hitachi)機器No.AICJU53コアファシリティ
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cryo走査電子顕微鏡 cryo SEM
cryo Scanning Electron Microscope
JSM-IT200
(JEOL)機器No.AICJU54コアファシリティ
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卓上走査電子顕微鏡 Desktop SEM
Desktop Scanning Electron Microscope
TM3030Plus
(Hitachi)機器No.AICJU13コアファシリティ
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卓上走査電子顕微鏡 Benchtop SEM
Benchtop Scanning Electron Microscope
JCM-6000Plus
(JEOL)機器No.AICJU55コアファシリティ
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高分解能３次元X線CTシステム X-ray CT
SkyScan1172
(Bruker)機器No.AICJU65コアファシリティ
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ナノ3D光干渉計測システム CSI
Coherence Scanning Interferometry
VS1800（Hitachi）機器No.AICJU75コアファシリティ
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走査プローブ顕微鏡 SPM
Scanning Probe Microscope
NanoNavi E-sweep(Hitachi)
準備中機器No.AICJU78コアファシリティ
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複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM
Focused Ion Beam / Field Emission Scanning Electron Microscope
JIB-4700F
（JEOL）機器No.AICJU67コアファシリティ
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集束イオンビーム加工装置 FIB
Focused Ion Beam System
FB2200
(Hitachi)機器No.AICJU37コアファシリティ
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イオンミリング
Ion Milling Machine
IM4000Plus
(Hitachi)機器No.AICJU56
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SEM用イオンミリング装置
Ion Milling Machine
MODEL1061
(Fischione Instruments)機器No.AICJU60
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ウルトラミクロトーム
Ultramicrotome
EM UC7
(Leica)機器No.AICJU59
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レーザー回折式粒度分布計 LD
Laser diffraction particle size analyzer
Mastersizer 3000
(Malvern Panalytical)機器No.AICJU82
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粒度分布/ゼータ電位計 DLS
Zeta potential/particle size analyzer
ZETASIZER Pro
(Malvern Panalytical)機器No.AICJU76コアファシリティ
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比表面積 細孔分布測定装置 BET/BJH
Surface Area and Pore Size Analyzer
Tristar3000 (SHIMADZU)機器No.AICJU42
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熱重量/示差熱測定装置 TG-DTA
Thermogravimetric Differential Thermal Analysis
TG-DTA8122 (Rigaku)機器No.AICJU80
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示差走査熱量計 DSC
Differential Scanning Calorimetry
DSCvesta2 (Rigaku)機器No.AICJU81
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イオン化エネルギー測定装置
BIP-KV100J
(BUNKOUKEIKI)機器No.AICJU63
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白金コーター
Sputter Coater (Pt)
JEC-3000FC (JEOL)
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU18
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金コーター
Sputter Coater (Au)
SC-701MC (サンユー電子)
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU19
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カーボンコーター
Carbon Coater
VC-100 (真空デバイス)
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU20
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オスミウムコーター
Plasma Coater (Os)
Tennant20（Meiwafosis）
利用についてはスタッフまでお問合わせください。機器No.AICJU74
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親水化処理装置
Plasma treatment device
PIB-20（Vacuum Device）
利用についてはスタッフまでお問合わせください。機器No.AICJU84
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超音波ホモジナイザー
Ultrasonic homogenizer
US-300AT（NiSSEi）
利用についてはスタッフまでお問合わせください。機器No.AICJU85
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ミクロ天秤
Microbalance
XP56
(Mettler Toledo)機器No.AICJU14
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クリーンルーム
Clean Room
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU15
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電子顕微鏡試料調製（カーボンペースト固定）
真空デシケーター
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU16
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TEM試料調製（微粒子）
光学顕微鏡，超音波洗浄機，真空デシケーター
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU17
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データ解析室
Data Analysis Software
XPS, XRD, EBSD, Origin
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU21
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写真現像室
Photo Processing Room
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU23
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大判プリンター
Large-Format Printer
TM-300 (Canon)
利用についてはスタッフまでお問合せください機器No.AICJU24
共同負担・共同管理機器および設備
科学研究費や大型プロジェクト等で購入し、一部共同利用に供している機器および設備
- 運営費用
- 機器管理者全員で等分負担
- 利用方法
- 機器管理者と相談の上、決定（利用の際は機器管理者として登録）
試料によっては利用をお断りすることがあります。学生単独での利用をお断りすることがあります。 - 利用料金
- 機器の維持に係る費用を機器管理者で等分負担＋電気料金
機器によっては利用料金が高額になる場合があります。 - お問合せ先
- 各問合せフォームからお願いします。
機器利用お問合せ（学内用）
講習や依頼分析を希望する方は希望する日時や試料について明記してください。学生は必ず指導教員の許可を得てください。
機器利用・総合受付WEB窓口（学外用）
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高感度赤外分光高度計 FT-IR
High Sensitivity
Model 7000n
(Varian)機器No.AICJU27
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表面増強赤外分光光度計 FT-IR
Surface-Enhanced
FTS-60A
(Bio-Rad)機器No.AICJU28
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X線回折装置 XRD (ice)
Ultima IV
(Rigaku)機器No.AICJU32
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三次元透過電子顕微鏡 3D-TEM
3D Transmission Electron Microscope
JEM-2100
(JEOL)機器No.AICJU41コアファシリティ
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集束イオンビーム/走査電子顕微鏡 FIB-SEM
Focused Ion Beam / Scanning Electron Microscope
JIB-4500
(JEOL)機器No.AICJU38
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集束イオンビーム/電界放出形走査電子顕微鏡 FIB-FESEM
Focused Ion Beam / Field Emission Scanning Electron Microscope
SMI3050SE (SII)機器No.AICJU39
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3D X線顕微鏡
High-resolution 3D X-ray Microscoy
SKYSCAN 1272
(BRUKER)機器No.AICJU86
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ナノインデンター
Nano Indenter
G200
(Agilent Technologies)機器No.AICJU45
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純水製造装置
Pure Water Machine
WG250 (Yamato)機器No.AICJU52
共用機器
機器共用化事業で取り扱いのある機器
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核磁気共鳴装置 NMR
Nuclear Magnetic Resonance
JNM-ECA400(JEOL)
学外利用の場合、溶液測定のみコアファシリティ
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核磁気共鳴装置 NMR
Nuclear Magnetic Resonance
JNM-ECZL500R(JEOL)
溶液測定のみコアファシリティ
