蛍光X線分析装置 XRF

機種    :Rigaku ZSX Primus III+
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設置場所  :分析計測センター217室
担当教員  :
担当技術職員:◯高橋 美幸、上野 悠一、吉田 拓也

B以上の元素の定性・定量分析が可能
波長分散型(WDXRF),上面照射方式,3kW X線管(Rhターゲット)
分光結晶:LiF(200),PET,RX26,RX45,RX61,LiF(220)

 

X線装置使用者教育訓練を受講し,X線装置使用者登録申請を行う必要があります.

XRFとは?XRFで何がわかるか

試料にX線を照射すると光電効果により電子が放出されて空孔ができます.空孔ができた電子殻よりもエネルギー準位の高い外殻の電子が内殻に遷移することで特性X線が放出されます.この特性X線を蛍光X線と呼びます.蛍光X線のエネルギー(波長)は内殻と外殻のエネルギー差に対応し元素固有の値を持つことから,蛍光X線のエネルギーを測定することにより,試料に含まれる元素の定性分析ができます.また,ファンダメンタル・パラメーター法により,蛍光X線の強度から簡便に半定量分析が可能です.

XRF測定用の試料について

測定可能な試料
金属、セラミックス・ガラス、有機物・高分子
試料形状
固体(バルク)
試料サイズ
試料マスクは直径10 mm, 20 mm, 30 mm.
試料ホルダーに入る最大サイズは直径51 mm × 30 mm
試料に関する注意
以下の試料は装置内部に悪影響を及ぼす可能性があります.分析を控える様にお願いします
・発火性のもの
・揮発性のもの
・低温(100℃程度)でも溶けるもの
・真空に引いた場合、飛散または破壊するもの
試料の調整方法
粉体試料はペレット化する必要があります.
 

Rigaku ZSX Primus III+の利用について

利用方法
現地利用 
半遠隔利用 web会議システムによる現地スタッフとの協働的な利用
利用補足
機器を直接操作(現地利用)するにはスタッフから講習を受けて操作方法を習得後、スタッフが行う技能認定試験に合格する必要があります。