トピックス一覧

2024年12月11日
卓上SEM（TM3030Plus）EDSアナライザー利用停止のお知らせ
2024年12月10日
【出展御礼】Matching HUB 長岡報告
2024年11月29日
Matching HUB 長岡　出展のお知らせ
2024年11月20日
冬季休館のお知らせ
2024年10月28日
電界放出形電子プローブマイクロアナライザ　FE-EPMA 総合整備のお知らせ
2024年10月28日
センター休館のお知らせ
2024年09月27日
金コーターの運用について
2024年09月04日
FE-TEM 二軸傾斜ホルダー修理完了のお知らせ
2024年08月29日
センター休館（10月1日）のお知らせ
2024年08月01日
センター夏季休館のお知らせ
2024年07月25日
FE-TEM 二軸傾斜ホルダー故障のお知らせ
2024年07月11日
卓上SEM（TM3030Plus）クールステージ利用停止のお知らせ（続報）
2024年07月11日
卓上SEM（TM3030Plus）利用再開のお知らせ
2024年07月01日
卓上SEM（TM3030Plus）予約受付停止のお知らせ
2024年06月03日
Cold FE-SEM(SU8230)利用再開のお知らせ
2024年05月27日
FE-TEM利用再開のお知らせ
2024年05月24日
分析計測センター時間外利用申請方法の変更について
2024年05月23日
【開催御礼】令和6年度 分析計測センター利用説明会
2024年05月21日
【開催御礼】レーザー回折式粒度分布計講習会
2024年05月14日
Cold FE-SEM(SU8230)利用停止のお知らせ
2024年05月14日
【開催御礼】イオン化エネルギー測定装置講習会
2024年05月08日
令和6年度 分析計測センター利用説明会
2024年04月24日
レーザー回折式粒度分布計講習会のお知らせ
2024年04月19日
イオン化エネルギー測定装置講習会のお知らせ
2024年03月22日
FE-TEM利用停止のお知らせ
2024年03月07日
卓上SEM（TM3030Plus）クールステージ利用停止のお知らせ
2024年01月22日
FE-SEM(SU8230)利用再開のお知らせ
2023年12月27日
FE-SEM(SU8230)利用停止のお知らせ
2023年11月29日
冬季休館のお知らせ
2023年11月09日
TEM(HT7700)予約受付再開のお知らせ
2023年11月09日
センター休館のお知らせ
2023年11月09日
装置利用停止のお知らせ（ICPS)
2023年10月19日
TEMの予約受付停止について
2023年07月21日
LRSフィルター更新のお知らせ
2023年07月06日
FTIR予約受付再開のお知らせ
2023年06月29日
センター夏季休館のお知らせ
2023年06月14日
センター周辺の路上駐車について
2023年06月08日
【開催御礼】ZETASIZER Pro勉強会
2023年06月02日
令和5年度　利用料金の改定について
2023年06月02日
ZETASIZER Pro勉強会のお知らせ
2023年06月01日
【開催御礼】令和5年度 分析計測センター利用説明会
2023年05月29日
FTIR予約受付停止のお知らせ
2023年05月29日
令和5年度 分析計測センター利用説明会
2023年05月11日
新規導入装置の一般開放
2023年03月29日
夜間の無人運転利用について
2023年03月10日
インストラクター資格更新のお願い
2023年03月10日
In-planeXRD利用再開について
2022年12月31日
故障による装置利用停止のお知らせ（EPMA）
2022年12月22日
天候の悪化に伴うセンター閉館のお知らせ
2022年12月09日
In-planeXRDの修理状況について
2022年12月01日
冬季休館のお知らせ
2022年10月27日
【開催御礼】X線光電子分光装置（Nexsa）RAMANユニット講習会
2022年10月13日
全学停電に伴う装置利用/予約停止期間
2022年10月12日
X線光電子分光装置（Nexsa）RAMANユニット講習会のお知らせ
2022年10月06日
In-planeXRDの予約受付停止について
2022年07月15日
センター夏季休館のお知らせ
2022年07月12日
センターの時間外利用について
2022年07月08日
LRS予約受付停止（8/25追記）
2022年07月07日
ショットキーFE-SEM機器講習会のお知らせ
2022年06月22日
利用料金の改定について
2022年06月22日
センター施錠時間の変更について
2022年06月20日
新規導入 3機種 利用受付開始のお知らせ
2022年06月10日
【開催御礼】令和4年度 分析計測センター利用説明会
2022年06月10日
XRF利用再開のお知らせ
2022年05月31日
XRF予約受付停止のお知らせ
2022年05月28日
予約システムの一部統合
2022年05月20日
予約システム一部統合について
2022年05月18日
令和4年度 分析計測センター利用説明会のお知らせ
2022年04月19日
センターの新型コロナ対策について
2022年02月15日
集束イオンビーム加工装置（Hitachi/FB2200）総合整備のお知らせ
2022年01月31日
講習依頼・依頼分析について（お知らせとお願い）
2022年01月17日
透過電子顕微鏡（Hitachi/HT7700）の状況について(2/10追記)
2021年12月20日
冬季休館のお知らせ
2021年11月24日
令和3年度 全学停電に伴うセンター閉館のお知らせ
2021年11月22日
【開催御礼】X線光電子分光装置（Nexsa）講習会
2021年09月28日
X線光電子分光装置（Nexsa）講習会のお知らせ
2021年08月19日
第40回 EPMA・表面分析ユーザーズミーティングのご案内
2021年08月19日
第5回FC-Cubicオープンシンポジウムのご案内
2021年08月16日
東日本地域高専技術職員特別研修見学会について（資料）
2021年08月03日
故障による装置利用停止のお知らせ（MALDI）
2021年07月21日
【開催御礼】FE-EPMA講習会
2021年07月19日
センター夏季休館のお知らせ
2021年07月09日
FE-EPMA講習会のお知らせ
2021年05月19日
分析計測センター新型コロナウイルス対策について
2021年04月27日
５月の連休に関連した対応について
2021年04月14日
【開催御礼】令和3年度 分析計測センター利用説明会
2021年01月29日
機器講習・研究室内引継ぎガイドライン
2021年01月18日
新規導入機器の運用を開始します
2020年10月03日
コロナ禍の中での学生実験
2020年08月07日
受託研究員制度についてのご案内
2020年07月21日
センター夏季休館のお知らせ
2020年07月16日
中間成果報告会　パネルディスカッション（内容）
2020年07月13日
新規導入されたICP発光分光分析装置の運用開始のお知らせ
2020年07月09日
分析技術者交流発表会　パネルディスカッション（内容）
2020年07月02日
分析計測センター&SHARE講演会のお知らせ
2020年06月24日
XRDオプション講習会を開催しました
2020年06月22日
【開催御礼】ICP発光分光分析装置・原子吸光分光光度計オンライン講習会
2020年06月18日
6/22からのセンター利用：講習・研究室内での引継ぎ・機器の利用制限解除
2020年06月10日
XRDオプション・オンライン機器講習会の開催について（案内）
2020年06月09日
オンライン機器講習の開催について（案内）
2020年06月01日
「大学経営改革促進事業」により4台の装置が新たに導入されました
2020年05月30日
6/1～センター利用再開についてのお知らせ
2020年05月15日
本学SHAREの取り組みを内閣府のワーキンググループに取り上げていただきました(文部科学省の資料)
2020年05月08日
センター利用自粛に関するお知らせ
2020年04月10日
【開催御礼】令和2年度分析計測センター利用説明会・見学会・SHARE説明会
2020年04月09日
【再】インストラクター資格更新申請について
2020年04月02日
令和2年度　分析計測センター利用説明会・見学会・SHARE説明会
2020年04月02日
分析計測センターにおけるコロナウイルス対策について
2020年03月23日
インストラクター資格更新申請のお願い