日本電子株式会社主催の「第40回EPMA･表面分析ユーザーズミーティング」が10月4日～10月29日に開催されます。
本学の齊藤信雄准教授が
「表面分析装置のリモート・スマート化によるリサーチトランスフォーメーション（RX）
- JEOL FE-EPMA・SXES, SEM, FE-AES, XPS, FE-TEMを用いた取り組みの紹介 -」
と題し、機器をリモート・スマート化し、高専を中心とする学外機関との遠隔共同利用の事例、日本電子様に協力をいただいた遠隔機器の有効利用の事例を紹介いたします。
＊聴講にはお申込みが必要です。
