機種　　　　：JEOL JEM-2100F
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設置場所　　：物理化学実験棟132室
担当教員　　：末松 久幸、本間 智之、中田 大貴
担当技術職員：◯小杉 健一朗

STEM搭載，EDS搭載，EELS搭載
最⾼加速電圧200kV、⾼分解能・⾼分析精度
ナノ領域での構造・組織解析および元素検出が可能

TEMとは？TEMで何がわかるか

試料に電子線を照射し，試料を透過した電子を結像させて二次元画像として拡大・投影したものがTEM像（明視野像）です．試料によって散乱された電子は対物絞りにより遮られ結像に寄与しないため，試料中での電子の散乱の度合いの違いにより像にコントラスがつきます（散乱コントラスト）．TEMで用いる電子線の波長は光学顕微鏡で用いる可視光の波長よりも短いため，TEMでは試料の構造をナノメートルオーダーで高分解能観察することができます．

TEM測定用の試料について

測定可能な試料

金属、セラミックス・ガラス

試料形状

固体（バルク、粉末）

試料サイズ

試料は直径3 mmのグリッドに載せます．
試料の厚さは約100nm以下です．

 

JEOL JEM-2100Fの利用について

利用方法

現地利用　
半遠隔利用　web会議システムによる現地スタッフとの協働的な利用
完全遠隔利用　リモートデスクトップ機能による単独での利用

利用補足

遠隔利用システムとして日本電子 WEB立会いシステムを搭載．