機種 ：Bruker SkyScan1172
設置場所 ：物質・材料経営情報棟255室
担当教員 ：田中 諭、中山 忠親
担当技術職員：◯河原 夏江、江村 望
非破壊で内部構造を高分解能で観察可能．
最高ピクセル分解能：最大 0.8μm/pixel．
X線透過像をもとに2D/3Dイメージで表示．
密閉型マイクロフォーカスX線源（出力100kV）．
XCT測定用の試料について
- 試料形状
- 固体（バルク、粉末）
- 試料サイズ
- 試料台（外形）：
（小）直径：4 mm ※写真参照
（中）直径：20 mm ※写真参照
（大）直径：52 mm
搭載可能最大サイズ：Φ 50 mm × 高さ60 mm - 試料に関する注意
- 試料台に粘土などを用いて固定します。
試料が小さいほど高分解能の測定が可能です。
Bruker SkyScan1172の利用について
- 利用方法
- 現地利用
半遠隔利用 web会議システムによる現地スタッフとの協働的な利用
- 利用補足
- 予約時は備考欄に以下の記入をお願いします。
・使用するフィルタ [なし or Al or Al＋Cu]
・使用するカメラ分解能 [small or medium or large]
