遠隔対応機器一覧 Equipment

技学コアファシリティネットワーク実施機関における遠隔対応機器です。

長岡技術科学大学

電界放出形電子プローブ マイクロアナライザ FE-EPMA

JEOL
JXA-iHP200F/EDS/SXES-ER

インレンズショットキーPlus電⼦銃を搭載。
WDS 3ch +EDS+軟X線分光器搭載 微量成分の検出が可能。

完全遠隔半遠隔VPN接続

グロー放電発光分析装置 GD-OES

HORIBA GD-Profiler2

ポリクロメーターによる多元素同時分析。
軽元素域の分析が可能(対応元素:H〜U)

完全遠隔半遠隔

X線光電子分光装置 XPS/UPS

Thermo Fisher Scientific
Nexsa(UPS/REELA/ISS/Raman)

10μm〜400μmの微⼩領域分析、⾼感度・⾼エネルギー分解能XPS分析。
価電⼦帯電⼦構造、最表⾯層の分析感度向上、表⾯電⼦構造etc

完全遠隔半遠隔VPN接続

X線光電子分光装置 XPS

JEOL JPS-9010TR

H、Heを除く全ての元素の定性・定量分析が可能。

完全遠隔半遠隔

オージェ電子分光装置 AES

JEOL JAMP-9500F

固体最表面(ナノ領域)の元素分析が可能。オージェ像による元素の分布状態観察が可能。デプスプロファイル測定が可能

半遠隔

レーザーラマン分光光度計 LRS

JASCO NRS-7200

レーザー(532nm)搭載。
回折限界に近い⾼空間分解能でのラマン測定が可能。

完全遠隔半遠隔

紫外可視近赤外分光光度計 UV-Vis/NIR

JASCO V-770

紫外から近赤外まで広い波長範囲(190~3500 nm)を測定可能

半遠隔

分光蛍光光度計 FL

JASCO FP-8550

 

半遠隔

電子スピン共鳴分光装置 ESR

JEOL JES-RE2X

物質内の不対電⼦の検出が可能

半遠隔

粉末X線回折装置 Powder XRD

Rigaku Smart Lab 3kW

単色X線(Cu-Ka1)を用いた高温測定(室温~1000°C)が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。

完全遠隔半遠隔VPN接続

In-plane型X線回折装置 In-plane XRD

Rigaku Smart Lab 9kW

In-Plane測定、極図形測定などの様々な薄膜X線分析が可能。
微⼩部測定オプションにより500μm程度の微⼩領域の測定が可能。

半遠隔

低温X線回折装置 Low temperature XRD

Rigaku Smart Lab 9kW

高出力(9kW)単色X線(Cu-Kα1)による83K程度までの低温測定が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。

半遠隔

蛍光X線分析装置 XRF

Rigaku ZSX Primus II

Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型X線検出器(WDS)を搭載。

完全遠隔半遠隔VPN接続

蛍光X線分析装置 XRF

Rigaku ZSX Primus III+

Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型(WDXRF)、上面照射式、3kW X線管(Rhターゲット)

半遠隔

透過電子顕微鏡 TEM

Hitachi HT7700/EDS/STEM

1軸傾斜ホルダーおよび2軸傾斜ホルダー利⽤可(傾斜⾓±30°)。
STEM/EDSによる元素マッピングが可能(10万倍まで)。

半遠隔

電界放出形透過電顕微鏡 FE-TEM

JEOL JEM-2100FEDS/EDX/EELS

最⾼加速電圧200kV、⾼分解能・⾼分析精度。
ナノ領域での構造・組織解析および元素検出が可能。

半遠隔

3次元透過電子顕微鏡 3D-TEM

JEOL JEM-2100

電子線トモグラフィーによる三次元像再構成が可能。
有機・高分子材料専用。

半遠隔

冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM

Hitachi SU8230/EDS/EBSD

コールドFE銃搭載、数⼗万倍の観察が可能。無蒸着でも⾼倍率観察が可能。
サブミクロン領域でのEBSD観察が可能。

完全遠隔半遠隔

冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM

Hitachi SU8000/EDS

有機物・生物試料専用
EDS検出器(HORIBA)搭載

半遠隔

ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM

JEOL
JSM-IT800/DualEDS/SXES-ER

ショットキー電⼦銃、同⼀ソフトでの表⾯観察とEDS分析。
デュアルEDS検出器、軟X線分光器搭載。

完全遠隔半遠隔VPN接続

走査電子顕微鏡 SEM

Hitachi FlexSEM1000II/EDS

EDS検出器(Oxford)搭載。数万倍での元素マッピングが可能。
低真空(30 Pa)での観察可能。

完全遠隔半遠隔VPN接続

クライオ走査電子顕微鏡 cryo-SEM

JEOL JSM-IT200/EDS

クライオユニット搭載 Liquid N2で、−140℃まで冷却して観察可能。
試料室内での割断・⾦蒸着が可能

完全遠隔半遠隔VPN接続

卓上走査電子顕微鏡 SEM

Hitachi TM3030Plus/EDS/CoolStage

クールステージ搭載。-20℃での観察可能。
導電性の無い試料を無蒸着で観察可能。

半遠隔

卓上走査電子顕微鏡 SEM

JEOL JCM-6000Plus/EDS

卓上型⾼真空SEM。EDS検出器搭載。
⾦属、無機物専⽤。

完全遠隔半遠隔

複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM

JEOL JIB-4700F

ピックアップ法によるTEM試料作製が可能。
三次元観察・三次元分析(EDS / EBSD)が可能。

完全遠隔半遠隔

集束イオンビーム加⼯装置 FIB

Hitachi FB2200

形態・構造観察(⾦属、セラミックス・ガラス、有機物・⾼分⼦)。
マイクロサンプリング法によるTEM試料作製が可能。

完全遠隔(KVM)半遠隔

ICP発光分光分析装置 ICP-OES

SHIMADZU ICPE-9820

マルチタイプICPで全波⻑取得、再解析可能。軸/横⽅向観測⾃動切換。
幅広い濃度範囲で分析可能。オートサンプラーにより分析⾃動化。

完全遠隔半遠隔

原子吸光分光光度計 AAS

SHIMADZU AA-7000

フレーム法(空気・アセチレン)およびファーネス法により⾼感度分析可能。
オートサンプラーにより分析⾃動化(最⼤60試料まで)。

完全遠隔半遠隔

ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計GC-TOF/MS

JEOLJMS-T200GC/AccuTOFGCx-plus/熱分解ユニット(PY-3030D) / ダブルショットパイロライザーによる揮発性成分や熱分解成分のカラム導入と、EI法/FI法による定性解析が可能。

半遠隔

マイクロフォーカスX線CTシステム

BRUKER SkyScan1172

⾮破壊で内部構造を観察可能
最⾼ピクセル分解能:最⼤0.7μm/pixel。
X線透過像をもとに2D/3Dイメージで表⽰。

半遠隔

デジタル顕微鏡(走査型白色干渉法) CSI

Hitachi
VS1800

半遠隔

粒子径・ゼータ電位測定装置

MalvernPanalytical
Zetasizer Pro

半遠隔

走査型プローブ顕微鏡 SPM

Hitachi
NanoNavi E-sweep

利用についてはスタッフまでお問い合わせください

半遠隔

核磁気共鳴装置 NMR

JEOL JNM-ECA400

10mmφ溶液⽤プローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる多サンプルの⾃動測定が可能。
溶液測定のみ

完全遠隔半遠隔

核磁気共鳴装置 NMR

JEOL JNM-ECZL500R

5 mmφ溶液⽤. SuperCOOLプローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる30本までの連続測定が可能。
溶液測定のみ

完全遠隔半遠隔

金属3Dプリンター   (SLM方式)

DMG MORI LASERTEC 30 DUAL SLM

利用についてはスタッフまでお問い合わせください

半遠隔

豊橋技術科学大学

透過電顕微鏡 TEM

JEOL JEM-1400Plus

EDS/STEM
ナノメートルオーダーで⾼分解能観察が可能。

半遠隔

顕微フーリエ変換赤外分光光度計 FT-IR

JASCO FT/IR-6600

1回反射ATR、65°⼊射型1回反射ATR、固体プリズムキット。顕微IRT-5200.全真空FTIR。

半遠隔

低真空走査電子顕微鏡 SEM

Hitachi SU3500

EDS/ライブステレオ観察
低真空(Max650Pa)での観察可能。

完全遠隔半遠隔

冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM

Hitachi SU8000

EDS

完全遠隔半遠隔

レーザー加工機

Trotec
Speedy300 flexx

CO2 80W/Fiber 30W

半遠隔

3Dプリンター(DLP方式)

3D SYSTEMS
Projet 3510 HDPlus

光硬化樹脂精密造形

半遠隔

函館工業高等専門学校

食品等放射能測定装置(Nal型)

Gammadata
γ線検出器GDM-20

検出限界 約2 Bq/kg

完全遠隔半遠隔

食品等放射能測定装置(Ge型)

BSI
γ線検出器GCD-30185

検出限界 約0.6 Bq/kg

完全遠隔半遠隔

原子吸光分光光度計 AAS

Themo Fisher Scientific
SOLAAR/M6

半遠隔

X線TV検査装置

SOFTEX
VIX-150

半遠隔

鶴岡工業高等専門学校

電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM

JEOL JSM-IT800/EDS

数⼗万倍での観察可能。

半遠隔

透過電子顕微鏡 TEM

JEOL JEM-2100/EDS

半遠隔

核磁気共鳴装置 NMR

JEOL JNM-ECZL400G

オートサンプルチェンジャー搭載

半遠隔

3Dプリンター(MJF方式)

Markforged
OnyxPro

強化複合材料3Dプリンター

完全遠隔半遠隔

3Dプリンター(FDM方式)

FLASHFORGE
Adventurer3X

3Dスキャナー
SHINING3D EinscanSE

完全遠隔半遠隔

イオン化ポテンシャル測定装置

BUNKOUKEIKI
BIP-M-IP (BIP-M25)

半遠隔

小山工業高等専門学校

触針式表面形状測定装置

BRUKER
Dektak-XT

半遠隔

示差走査熱量計

Rigaku
ThermoPlusEVO2 DSCvesta

半遠隔

群馬工業高等専門学校

蛍光X線分析装置 XRF

Rigaku
ZSX Primus II

元素の定性分析が可能。
ファンダメンタル・パラメーター法により簡便に半定量分析が可能

完全遠隔半遠隔

卓上⾛査電⼦顕微鏡 SEM

JEOL
JCM-7000 NeoScope/EDS

完全遠隔半遠隔

MALDI-TOF質量分析計

JEOL Spiral TOF JSM-S3000

完全遠隔半遠隔

XRD-DSC同時測定装置

Rigaku SmartLab

XRD-DSCアタッチメント

完全遠隔半遠隔

卓上X線回折装置

Rigaku
MiniFlex600

半遠隔

原子吸光分光光度計 AAS

SHIMADZU
AA-7000F

半遠隔

長岡工業高等専門学校

核磁気共鳴装置 NMR

JEOL JNM ECX400II

有機化合物・天然物(整体物質)の構造解析。

半遠隔

ショットキー電界放出形⾛査電⼦顕微鏡 FE-SEM

ZEISS ULTRA55/EsB検出器

半遠隔

走査電子顕微鏡 SEM

JEOL JSM-IT200/EDS

完全遠隔半遠隔

卓上走査電子顕微鏡 SEM

JEOL JCM-7000

完全遠隔半遠隔

長野工業高等専門学校

X線回折装置 XRD

Rigaku SmartLab

微小部測定/高温測定

完全遠隔半遠隔

低真空走査型電子顕微鏡SEM

Hitachi SU3500/EDS+EBS

完全遠隔半遠隔

富山高等専門学校

核磁気共鳴装置 NMR

JEOL JNM-ECX400 II

溶液プローブの他、4mmおよび8mm⽤固体プローブ有。

半遠隔

透過電子顕微鏡 TEM

JEOL JEM-2100

ナノメートルオーダーで⾼分解能観察が可能。
CCDカメラ2台搭載。

半遠隔

マイクロフォーカスX線CTシステム

SHIMADZU
inspwXio SMX-225CT FPD HR Plus型

半遠隔

超微小硬度計     (ナノインデンター)

SHIMADZU
DUH-211S

電動ステージ搭載

半遠隔

鈴鹿工業高等専門学校

MALDI-TOF質量分析計

JEOL Spiral TOF JMS-S3000

TOF-TOF/リニアTOF

完全遠隔半遠隔

走査型プローブ顕微鏡 SPM

SHIMADZU SPM-8100FM

液中観察/FM-AFM

半遠隔

蛍光X線分析装置 XRF

Rigaku ZSX PrimusⅣ

 

半遠隔

透過電子顕微鏡 TEM

JEOL
JEM-2100Plus/EDS/STEM

半遠隔

冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 SEM

Hitachi
SU8230/EDS/EBSD/STEM

半遠隔

呉工業高等専門学校

デジタル顕微鏡(複合型)

OLYMPUS OLS4500

Optical/Laser/SPM

完全遠隔半遠隔

卓上走査電子顕微鏡 SEM

JEOL JCM-7000/EDS

完全遠隔半遠隔

マスクレス露光装置(レーザー描画装置)

HEIDELBERG MLA 150

バックサイドアライメント露光

半遠隔

3Dプリンタ(MJP方式)

MUTOUH Zprinter 850

アルミ鋳造型中子造形

半遠隔

粒度分布計システム

MalvernPanalytical
Zetasizer Nano ZS

半遠隔

新居浜工業高等専門学校

3次元透過電子顕微鏡 TEM

JEOL
JEM-2100Plus/EDS/STEM/加熱/冷却/4K動画

半遠隔

大分工業高等専門学校

粉体流動性分析装置

MalvernPanalytical
FT4 Powder Rheometer

半遠隔

画像式粒度分布測定装置

MalvernPanalytical Morphologi4

半遠隔

レーザー回折式粒子径分布測定装置

MalvernPanalytical
Master sizer 3000

半遠隔

卓上走査電子顕微鏡 SEM

JEOL JCM-7000/EDS

完全遠隔半遠隔

振動式摩擦摩耗試験機

OPTIMOL INSTRUMENTS
SRV5

半遠隔

鹿児島工業高等専門学校

ICP発光分光分析装置 ICP-OES

PerkinElmer
Avio200

Cycloneネブライザー

半遠隔

流れの粒子画像流速計

LAVISION
FlowMaster Analysis 3D-PIVKT

高速度カメラ
レーザー光
PIVソフト

半遠隔

新潟県工業技術総合研究所

X線光電子分光装置

Thermo Fisher Scientific

K-Alpha

半遠隔

 

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