長岡技術科学大学
電界放出形電子線マイクロアナライザ FE-EPMA
JEOL
JXA-iHP200F/EDS/SXES-ER
インレンズショットキーPlus電⼦銃を搭載。
WDS 3ch ＋EDS＋軟X線分光器搭載 微量成分の検出が可能。
完全遠隔半遠隔VPN接続
グロー放電発光分析装置 GD-OES
Horiba GD-Profiler2
ポリクロメーターによる多元素同時分析。
軽元素域の分析が可能（対応元素：H〜U）
完全遠隔半遠隔
全自動光電子分析装置 XPS/UPS
ThermoFisherSCIENTIFIC
Nexsa(UPS/REELA/ISS/Raman)
10μm〜400μmの微⼩領域分析、⾼感度・⾼エネルギー分解能XPS分析。
価電⼦帯電⼦構造、最表⾯層の分析感度向上、表⾯電⼦構造etc
完全遠隔半遠隔VPN接続
X線光電子分光装置 XPS
JEOL JPS-9010TR
H、Heを除く全ての元素の定性・定量分析が可能。
完全遠隔半遠隔
オージェ電子分光装置 AES
JEOL JAMP-9500F
固体最表面（ナノ領域）の元素分析が可能。オージェ像による元素の分布状態観察が可能。デプスプロファイル測定が可能
半遠隔
レーザーラマン分光光度計 LRS
JASCO NRS-7200
レーザー(532nm)搭載。
回折限界に近い⾼空間分解能でのラマン測定が可能。
完全遠隔半遠隔
紫外可視近赤外分光光度計 UV-Vis/NIR
JASCO V-770
紫外から近赤外まで広い波長範囲（190～3500 nm）を測定可能
半遠隔
分光蛍光光度計 FL
JASCO FP-8550
半遠隔
電子スピン共鳴分光装置 ESR
JEOL JES-RE2X
物質内の不対電⼦の検出が可能
半遠隔
粉末X線回折装置 Powder XRD
Rigaku Smart Lab 3kW
単色X線(Cu-Ka1)を用いた高温測定(室温~1000°C)が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。
完全遠隔半遠隔VPN接続
In-plane型X線回折装置 In-plane XRD
Rigaku Smart Lab 9kW
In-Plane測定、極図形測定などの様々な薄膜X線分析が可能。
微⼩部測定オプションにより500μm程度の微⼩領域の測定が可能。
半遠隔
低温X線回折装置 Low temperature XRD
Rigaku Smart Lab 9kW
高出力(9kW)単色X線(Cu-Kα1)による83K程度までの低温測定が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。
半遠隔
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus II
Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型X線検出器（WDS）を搭載。
半遠隔
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus III+
Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型(WDXRF)、上面照射式、3kW X線管(Rhターゲット)
半遠隔
透過電子顕微鏡 TEM
Hitachi HT7700/STEM/EDS
1軸傾斜ホルダーおよび2軸傾斜ホルダー利⽤可（傾斜⾓±30°）。
STEM/EDSによる元素マッピングが可能（10万倍まで）。
半遠隔
電界放出形透過電顕微鏡 FE-TEM
JEOL JEM-2100F/EDX/EELS
最⾼加速電圧200kV、⾼分解能・⾼分析精度。
ナノ領域での構造・組織解析および元素検出が可能。
半遠隔
三次元透過電子顕微鏡 3D-TEM
JEOL JEM-2100
電子線トモグラフィーによる三次元像再構成が可能。
有機・高分子材料専用。
半遠隔
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8230/EDS/EBSD
コールドFE銃搭載、数⼗万倍の観察が可能。無蒸着でも⾼倍率観察が可能。
サブミクロン領域でのEBSD観察が可能。
完全遠隔半遠隔
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8230/EDS/EBSD
有機物・生物試料専用
EDS検出器(HORIBA)搭載
半遠隔
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
JEOL
JSM-IT800/DualEDS/SXES-ER
ショットキー電⼦銃、同⼀ソフトでの表⾯観察とEDS分析。
デュアルEDS検出器、軟X線分光器搭載。
完全遠隔半遠隔VPN接続
走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi FlexSEM1000II/EDS
EDS検出器（Oxford）搭載。数万倍での元素マッピングが可能。
低真空（30 Pa）での観察可能。
完全遠隔半遠隔VPN接続
クライオ走査電子顕微鏡 cryo-SEM
JEOL JSM-IT200
クライオユニット搭載 Liquid N２で、−140℃まで冷却して観察可能。
試料室内での割断・⾦蒸着が可能
完全遠隔半遠隔VPN接続
卓上走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi TM3030Plus/EDS/CoolStage
クールステージ搭載。-20℃での観察可能。
導電性の無い試料を無蒸着で観察可能。
半遠隔
卓上走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JCM-6000Plus/EDS
卓上型⾼真空SEM。EDS検出器搭載。
⾦属、無機物専⽤。
完全遠隔半遠隔
複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM
JEOL JIB-4700F
ピックアップ法によるTEM試料作製が可能。
三次元観察・三次元分析(EDS / EBSD)が可能。
完全遠隔半遠隔
集束イオンビーム加⼯装置 FIB
Hitachi FB2200
形態・構造観察(⾦属、セラミックス・ガラス、有機物・⾼分⼦)。
マイクロサンプリング法によるTEM試料作製が可能。
完全遠隔(KVM)半遠隔
ICP発光分光分析装置 ICP-OES
Shimadzu ICPE-9820
マルチタイプICPで全波⻑取得、再解析可能。軸/横⽅向観測⾃動切換。
幅広い濃度範囲で分析可能。オートサンプラーにより分析⾃動化。
完全遠隔半遠隔
原子吸光分光光度計 AAS
Shimadzu AA-7000
フレーム法（空気・アセチレン）およびファーネス法により⾼感度分析可能。
オートサンプラーにより分析⾃動化（最⼤60試料まで）。
完全遠隔半遠隔
高性能ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計 GC-TOF/MS
JEOL JMS-T200GC
AccuTOFGCx-plus
ダブルショットパイロライザーによる揮発性成分や熱分解成分のカラム導入と、EI法/FI法による定性解析が可能。
半遠隔
高分解能３次元X線CTシステム X-rayCT
Bruker SkyScan1172
⾮破壊で内部構造を観察可能
最⾼ピクセル分解能：最⼤0.7μm/pixel。
X線透過像をもとに2D/3Dイメージで表⽰。
半遠隔
ナノ3D光干渉計測システム CSI
Hitachi
VS1800
半遠隔
粒子径・ゼータ電位測定装置
MalvernPanalytical
ZETASIZER Pro
半遠隔
走査型プローブ顕微鏡 SPM
Hitachi
NanoNavi E-sweep
準備中
半遠隔
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM-ECA400
10mmφ溶液⽤プローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる多サンプルの⾃動測定が可能。
溶液測定のみ
完全遠隔半遠隔
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM-ECZL500R
5 mmφ溶液⽤. SuperCOOLプローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる30本までの連続測定が可能。
溶液測定のみ
完全遠隔半遠隔
豊橋技術科学大学
透過電顕微鏡 TEM
JEOL JEM-1400Plus
EDS検出器搭載。
ナノメートルオーダーで⾼分解能観察が可能。
半遠隔
顕微フーリエ変換赤外分光光度計 FT-IR
JASCO FT/IR-6600
1回反射ATR、65°⼊射型1回反射ATR、固体プリズムキット。
全真空FTIR。
半遠隔
低真空走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi SU3500
EDS検出器搭載。
低真空（Max650Pa）での観察可能。
完全遠隔半遠隔
電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM
Hitachi SU8000/EDS
完全遠隔半遠隔
集束イオンビーム加工装置
ThermoFisherSCIENTIFIC Quanta3D
半遠隔
レーザー加工機
Trotec
Speedy300 Flexx
CO2 80W/Fiber 30W
半遠隔
３Dプリンタ
Projet 3510 HDPlus
3D SYSTEMS
光硬化樹脂精密造形
半遠隔
函館工業高等専門学校
食品等放射能測定装置Nal型
Gammadata
γ線検出器GDM-20
検出限界 約2 Bq/kg
完全遠隔半遠隔
食品等放射能測定装置Ge型
BSI
γ線検出器GCD-30185
検出限界 約0.6 Bq/kg
完全遠隔半遠隔
原子吸光装置 AAS
Themo Fisher Scientific
SOLAAR/M6
半遠隔
X線透視装置
Softex
VIX-150
半遠隔
鶴岡工業高等専門学校
電界放出形走査電子顕微鏡 FE-SEM
JEOL JSM-7100F/EDS
数⼗万倍での観察可能。
半遠隔
透過電子顕微鏡 TEM
JEOL JEM-2100/EDS
半遠隔
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM ECX400
オートサンプルチェンジャー搭載
半遠隔
3Dプリンターシステム
Markforged
OnyxPro
強化複合材料3Dプリンター
完全遠隔半遠隔
金属3Dプリンター
FLASHFORGE
Adventurer3X
3Dスキャナー
SHINING3D EinscanSE
完全遠隔半遠隔
イオン化ポテンシャル測定装置
BUNKOUKEIKI
BIP-M-IP
半遠隔
小山工業高等専門学校
触針式表面形状測定装置
Bruker
Dektak-XT
半遠隔
示差走査熱量計
Rigaku
ThermoPlusEVO2 DSCvesta
半遠隔
群馬工業高等専門学校
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku
ZSX Primus II
元素の定性分析が可能。
ファンダメンタル・パラメーター法により簡便に半定量分析が可能
完全遠隔半遠隔
卓上⾛査電⼦顕微鏡 SEM
JEOL
JCM-7000 NeoScope/EDS
完全遠隔半遠隔
時間飛行型質量分析計 MALDI-ToF-MS
JEOL JSM-S3000
完全遠隔半遠隔
XRD-DSC同時測定装置
Rigaku SmartLab
XRD-DSCアタッチメント
完全遠隔半遠隔
卓上X線回折装置
Rigaku
MiniFlex600
半遠隔
原子吸光分光光度計 AAS
SHIMADZU
AA-7000F
半遠隔
長岡工業高等専門学校
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM ECX400II
有機化合物・天然物（整体物質）の構造解析。
半遠隔
電界放出形⾛査電⼦顕微鏡 FE-SEM
Zeiss ULTRA55/EsB
半遠隔
走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JSM-IT200/EDS
完全遠隔半遠隔
走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JCM-7000
完全遠隔半遠隔
長野工業高等専門学校
X線回折装置 XRD
Rigaku SmartLab
微小部測定/高温測定
完全遠隔半遠隔
走査型電子顕微鏡 SEM
Hitachi SU3500/EDS+EBS
完全遠隔半遠隔
富山高等専門学校
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM-ECX400 II
溶液プローブの他、4mmおよび8mm⽤固体プローブ有。
半遠隔
透過電子顕微鏡 TEM
JEOL JEM-2100
ナノメートルオーダーで⾼分解能観察が可能。
CCDカメラ2台搭載。
半遠隔
マイクロフォーカスX線CT
SHIMADZU
inspwXio SMX-225CT FPD HR Plus型
半遠隔
ダイナミック微小硬度計
SHIMADZU
DUH-211S
電動ステージ搭載
半遠隔
鈴鹿工業高等専門学校
時間飛行型質量分析計 MALDI
JEOL SpiralTOF JMS-S3000
TOF-TOF/リニアTOF
完全遠隔半遠隔
原子間力顕微鏡 AFM
Shimadzu SPM-8100FM
液中観察/FM-AFM
半遠隔
走査型波長分散蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX PrimusⅣ
半遠隔
透過電子顕微鏡 TEM
JEOL
JEM-2100Plus/EDS/STEM
半遠隔
走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi
Regulus8230/EDS/EBSD/STEM
半遠隔
呉工業高等専門学校
ナノサーチ顕微鏡
OLYMPUS OLS4500
Optical/Laser/SPM
完全遠隔半遠隔
走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JCM-7000EDS
完全遠隔半遠隔
マスクレス露光装置
HEIDELBERG INSTRUMENTS
MLA-150
バックサイドアライメント露光
半遠隔
3Dプリンタ
MUTOUH Zprinter 850
アルミ鋳造型中子造形
半遠隔
粒度分布計システム
MalvernPanalytical
ZETASIZER NANO ZS
半遠隔
新居浜工業高等専門学校
透過電子顕微鏡 TEM
JEOL
JEM-2100Plus/EDS/STEM/加熱/冷却/4K動画
半遠隔
大分工業高等専門学校
粉体流動性分析装置
FreemanTechnology
FT4 Powder Rheometer
半遠隔
粒度分布測定装置
MalvernPanalytical Morphologi4
半遠隔
レーザー回折式粒子径分布測定装置
MalvernPanalytical
Master sizer 3000
半遠隔
走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JCM-7000/EDS
完全遠隔半遠隔
振動式摩擦摩耗試験機
OPTIMOL INSTRUMENTS
SRV5
半遠隔
鹿児島工業高等専門学校
ICP発光分光分析装置 ICP-OES
Perkinelmer
Avio200
cyclonネブライザー
半遠隔
流れの粒子画像流速計
LAVISION
FlowMaster Analysis 3D-PIVKT
高速度カメラ
レーザー光
PIVソフト
半遠隔
