電界放出形電子プローブ マイクロアナライザ FE-EPMA
JEOL
JXA-iHP200F/EDS/SXES-ER
インレンズショットキーPlus電⼦銃を搭載。
WDS 3ch +EDS+軟X線分光器搭載 微量成分の検出が可能。
完全遠隔半遠隔VPN接続
グロー放電発光分析装置 GD-OES
HORIBA GD-Profiler2
ポリクロメーターによる多元素同時分析。
軽元素域の分析が可能(対応元素:H〜U)
完全遠隔半遠隔
X線光電子分光装置 XPS/UPS
Thermo Fisher Scientific
Nexsa(UPS/REELA/ISS/Raman)
10μm〜400μmの微⼩領域分析、⾼感度・⾼エネルギー分解能XPS分析。
価電⼦帯電⼦構造、最表⾯層の分析感度向上、表⾯電⼦構造etc
完全遠隔半遠隔VPN接続
X線光電子分光装置 XPS
JEOL JPS-9010TR
H、Heを除く全ての元素の定性・定量分析が可能。
完全遠隔半遠隔
オージェ電子分光装置 AES
JEOL JAMP-9500F
固体最表面(ナノ領域)の元素分析が可能。オージェ像による元素の分布状態観察が可能。デプスプロファイル測定が可能
半遠隔
フーリエ変換赤外分光装置 FT/IR
SHIMADZU IRTracer-100
S/N 60000:1
最高分解0.25cm-1
高感度、高分解測定が可能。
半遠隔
レーザーラマン分光光度計 LRS
JASCO NRS-7200
レーザー(532nm)搭載。
回折限界に近い⾼空間分解能でのラマン測定が可能。
完全遠隔半遠隔
冷却加熱型レーザーラマン分光光度計
Tokyo Instruments
Nanofinder FLEX
顕微鏡用冷却・加熱ステージ
半遠隔
紫外可視近赤外分光光度計 UV-Vis/NIR
JASCO V-770
紫外から近赤外まで広い波長範囲(190~3500 nm)を測定可能
半遠隔
電子スピン共鳴分光装置 ESR
JEOL JES-RE2X
物質内の不対電⼦の検出が可能
半遠隔
粉末X線回折装置 Powder XRD
Rigaku Smart Lab 3kW
単色X線(Cu-Ka1)を用いた高温測定(室温~1000°C)が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。
完全遠隔半遠隔VPN接続
In-plane型X線回折装置 In-plane XRD
Rigaku Smart Lab 9kW
In-Plane測定、極図形測定などの様々な薄膜X線分析が可能。
微⼩部測定オプションにより500μm程度の微⼩領域の測定が可能。
半遠隔
低温X線回折装置 Low temperature XRD
Rigaku Smart Lab 9kW
高出力(9kW)単色X線(Cu-Kα1)による83K程度までの低温測定が可能。
オートサンプルチェンジャー(ASC-10)による連続測定が可能(室温測定)。
半遠隔
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus II
Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型X線検出器(WDS)を搭載。
完全遠隔半遠隔VPN接続
蛍光X線分析装置 XRF
Rigaku ZSX Primus III+
Be以上の元素の定性・定量分析が可能 。
波⻑分散型(WDXRF)、上面照射式、3kW X線管(Rhターゲット)
半遠隔
透過電子顕微鏡 TEM
Hitachi HT7700/EDS/STEM
1軸傾斜ホルダーおよび2軸傾斜ホルダー利⽤可(傾斜⾓±30°)。
STEM/EDSによる元素マッピングが可能(10万倍まで)。
半遠隔
電界放出形透過電顕微鏡 FE-TEM
JEOL JEM-2100FEDS/EDX/EELS
最⾼加速電圧200kV、⾼分解能・⾼分析精度。
ナノ領域での構造・組織解析および元素検出が可能。
半遠隔
3次元透過電子顕微鏡 3D-TEM
JEOL JEM-2100
電子線トモグラフィーによる三次元像再構成が可能。
有機・高分子材料専用。
半遠隔
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8230/EDS/EBSD
コールドFE銃搭載、数⼗万倍の観察が可能。無蒸着でも⾼倍率観察が可能。
サブミクロン領域でのEBSD観察が可能。
完全遠隔半遠隔
冷陰極電界放出形走査電子顕微鏡 Cold FE-SEM
Hitachi SU8000/EDS
有機物・生物試料専用
EDS検出器(HORIBA)搭載
半遠隔
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 Schottky FE-SEM
JEOL
JSM-IT800/DualEDS/SXES-ER
ショットキー電⼦銃、同⼀ソフトでの表⾯観察とEDS分析。
デュアルEDS検出器、軟X線分光器搭載。
完全遠隔半遠隔VPN接続
走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi FlexSEM1000II/EDS
EDS検出器(Oxford)搭載。数万倍での元素マッピングが可能。
低真空(30 Pa)での観察可能。
完全遠隔半遠隔VPN接続
クライオ走査電子顕微鏡 cryo-SEM
JEOL JSM-IT200/EDS
クライオユニット搭載 Liquid N2で、−140℃まで冷却して観察可能。
試料室内での割断・⾦蒸着が可能
完全遠隔半遠隔VPN接続
卓上走査電子顕微鏡 SEM
Hitachi TM3030Plus/EDS
低真空での観察可能
導電性の無い試料を無蒸着で観察可能。
半遠隔
卓上走査電子顕微鏡 SEM
JEOL JCM-6000Plus/EDS
卓上型⾼真空SEM。EDS検出器搭載。
⾦属、無機物専⽤。
完全遠隔半遠隔
複合ビーム加工観察装置 FIB/FE-SEM
JEOL JIB-4700F
ピックアップ法によるTEM試料作製が可能。
三次元観察・三次元分析(EDS / EBSD)が可能。
完全遠隔半遠隔
集束イオンビーム加⼯装置 FIB
Hitachi FB2200
形態・構造観察(⾦属、セラミックス・ガラス、有機物・⾼分⼦)。
マイクロサンプリング法によるTEM試料作製が可能。
完全遠隔(KVM)半遠隔
ICP発光分光分析装置 ICP-OES
SHIMADZU ICPE-9820
マルチタイプICPで全波⻑取得、再解析可能。軸/横⽅向観測⾃動切換。
幅広い濃度範囲で分析可能。オートサンプラーにより分析⾃動化。
完全遠隔半遠隔
原子吸光分光光度計 AAS
SHIMADZU AA-7000
フレーム法(空気・アセチレン)およびファーネス法により⾼感度分析可能。
オートサンプラーにより分析⾃動化(最⼤60試料まで)。
完全遠隔半遠隔
ガスクロマトグラフ飛行時間質量分析計GC-TOF/MS
JEOLJMS-T200GC/AccuTOFGCx-plus/熱分解ユニット(PY-3030D) / ダブルショットパイロライザーによる揮発性成分や熱分解成分のカラム導入と、EI法/FI法による定性解析が可能。
半遠隔
マイクロフォーカスX線CTシステム
BRUKER SkyScan1172
⾮破壊で内部構造を観察可能
最⾼ピクセル分解能:最⼤0.7μm/pixel。
X線透過像をもとに2D/3Dイメージで表⽰。
半遠隔
レーザー回折式粒度分布計LD
MalvernPanalytical
Mastersizer 3000
測定可能粒子径
分散ユニット_HydroLV
10 nm ~ 1500 μm
分散ユニット_HydroSV
10 nm ~ 200 μm
半遠隔
粒子径・ゼータ電位測定装置
MalvernPanalytical
Zetasizer Pro
動的光散乱(DLS)法を使用した粒子径と分子サイズの測定
電気泳動光散乱(ELS)法による粒子と分子のゼータ電位測定
非接触後方散乱測定技術
(NIBS)を採用
半遠隔
比表面積細孔分布測定装置 BET/BJH
SHIMADZU
Tristar3000
比表面積測定:単分子層吸着 測定範囲は相対圧0.3程度まで。
細孔分布測定:さらにN2を吸着させ細孔をN2で満たして細孔容積・細孔径とする。
半遠隔
熱重量/示差熱測定装置 TG-DTA
Rigaku TG-DTA8122
高温電気炉による最大温度1500°Cまでの測定が可能
水平差動方式による高精度な熱重量分析
半遠隔
示差走査熱量計 DSC
Rigaku DSCvesta2
液体窒素ダイレクト冷却ユニットによる−180°Cからの測定が可能
アルミ製シール容器で脱水・脱溶媒を抑えた測定が可能
(耐圧0.3 MPa)
半遠隔
イオン化エネルギー測定装置
BUNKOUKEIKI BIP-KV100J
測定波長範囲:130~310 nm(9.54~4.0 eV),364~165 nm(3.54~7.5 eV)
真空,窒素・大気雰囲気
イオン化エネルギーや仕事関数を簡易的に測定可能
半遠隔
走査型プローブ顕微鏡 SPM
Hitachi
NanoNavi E-sweep
利用についてはスタッフまでお問い合わせください
半遠隔
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM-ECA400
10mmφ溶液⽤プローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる多サンプルの⾃動測定が可能。
溶液測定のみ
完全遠隔半遠隔
核磁気共鳴装置 NMR
JEOL JNM-ECZL500R
5 mmφ溶液⽤. SuperCOOLプローブによる⾼感度測定が可能。
オートサンプルチェンジャーによる30本までの連続測定が可能。
溶液測定のみ
完全遠隔半遠隔
金属3Dプリンター (SLM方式)
DMG MORI LASERTEC 30 DUAL SLM
利用についてはスタッフまでお問い合わせください
半遠隔